Suchergebnis

• Drucksensoren für die Systemintegration in Silizium Adams, Stefan Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1995

• Der Einfluß thermischer Spannungen auf die Defektstruktur in heteroepitaktischen Halbleiterfilmen Roos, Bernd Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1994

• Gleichgewichts-Korngrenzensegregation des Antimons in Eisen, Eisenbasislegierungen und Stählen Mast, Ralph Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1997

• Ein Großsignal-Modell des SiGe-Hetero-Bipolar-Transistors für den Entwurf monolithisch integrierter Mikrowellen-Schaltungen Rheinfelder, Clemens Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1998

• LPCVD-Polysilizium in der Mikromechanik Bestimmung der elastischen Eigenschaften Maier-Schneider, Dieter Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1995

• Mechanisches Legieren harter und spröder Materialien Untersuchungen am Halbleitersystem Silizium-Germanium Pixius, Kay Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1996

• MOVPE-Schichten aus III-V-Halbleitern auf (001)-Si-Substraten Tang, Guang-Ping Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1994

• Optimierung von III-V-Halbleitern auf Si für einen optoelektronischen Empfänger Bartels, Arne Als Ms. gedr., Düseldorf : VDI-Verl., 1996

• Profilanalyse bei der Reflexionselektronenbeugung (RHEED): elastische und inelastische Streuung Müller, Bert Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1994

• Randzonenanalyse bearbeiteter Silizium-Oberflächen Menz, Carsten Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1997