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• Modifikation von CCD-Bildsensoroberflächen zur Steigerung des Höhenauflösungsvermögens von Moiré-Topographiemeßplätzen Seib, Michael Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1995

• Untersuchungen zu Mehr-Wellenlängen-Verfahren und deren Anwendungen auf Projektionsmoirés zur absoluten Formerfassung Rathjen, Christian Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1996