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Suche nach: Schlagwort = Topological groups und Sammlung = UB Paderborn

Elektrische Charakterisierung mikroelektronischer Bauelemente mittels der Rasterkraftmikroskopie
Boehm, Christoph
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1995
Methoden zum automatischen Test von digitalen, analogen und Mixed-Signal-Schaltungen
Schmitz, Christian
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1994