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Titel
Datenstrukturen und Algorithmen zu Testzwecken / Ralf Hahn
Verfasser
Hahn, Ralf
Erschienen
Düsseldorf : VDI-Verl.,
1995
Ausgabe
Als Ms. gedr.
Umfang
XII, 170 S. : graph. Darst.
Hochschulschrift
Zugl.: Diss.
Serie
Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 20, Rechnerunterstützte Verfahren ; 159
Schlagwörter
Integrierte Schaltung
/
Fertigungsfehler
/
Fehlersimulation
/
Testmuster
/
Datenstruktur
/
Algorithmus
ISBN
3-18-315920-1
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Datenstrukturen und Algorithmen zu Testzwecken [0,47 mb]
Nachweis
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